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XRF測金儀在黃金珠寶貴金屬檢測分析中的應(yīng)用

更新時間:2022-11-14      點(diǎn)擊次數(shù):687

什么是X熒光光譜測金儀?XRF測金儀

隨著貴金屬價格的每日變化,測試中的微小誤差會嚴(yán)重影響您的利潤。鍍金和偽劣物品只是珠寶商,黃金交易商和當(dāng)鋪所有者每天面臨的一些挑戰(zhàn)。企業(yè)需要準(zhǔn)確的結(jié)果來消除確定項(xiàng)目價值的可變性和主觀性,以確保交易可獲利。

XRF熒光光譜測金儀.png

X熒光光譜儀測金儀原理

X射線熒光光譜法(XRF)測金儀被普遍認(rèn)為是一種非常準(zhǔn)確的方法,它通過用高能光子(例如X射線或γ射線)照射樣品并觀察由此產(chǎn)生的X射線熒光來測量材料的原子組成。

通常,X射線熒光光譜儀由激發(fā)輻射源(X射線管或放射性同位素),檢測來自樣品的受激輻射的輻射檢測器以及光譜輸出顯示組成。

在X射線熒光光譜法中,該方法開始于將樣品暴露于X射線或伽馬射線源。當(dāng)這些高能光子撞擊樣品時,它們傾向于將電子從構(gòu)成樣品的原子核周圍的軌道中擊出。發(fā)生這種情況時,來自原子外軌道或“殼"的電子將落入缺失電子的殼中。由于外層電子比內(nèi)層電子更具能量電子,重新定位的電子具有多余的能量,這些能量被消耗為X射線熒光光子。這種熒光對于樣品的成分是的。檢測器收集該光譜并將其轉(zhuǎn)換為與樣品光譜中各種X射線能量成比例的電脈沖。由于每個元素都有不同且可識別的X射線特征,因此我們可以查看發(fā)射光譜的特定部分,并通過計數(shù)該扇區(qū)中的脈沖來確定樣品中所涉及元素的存在和濃度。

能量色散X射線熒光(EDXRF)依靠檢測器和檢測器電子設(shè)備解決X射線暴露在樣品上時產(chǎn)生的光譜峰。 XRF檢測器可以檢測到由曝光引起的不同能級,然后由功能強(qiáng)大的分析軟件對其進(jìn)行處理。因此得出最終黃金及其他金屬成分含量結(jié)果。



XRF優(yōu)勢和特點(diǎn)

準(zhǔn)確測定金和所有貴金屬(如銀,鉑,鈀,銠,銥和釕)的含量同時測量所有元素,而無需根據(jù)要分析的材料切換校準(zhǔn)

非破壞性貴金屬分析可保護(hù)貴重珠寶,古董和收藏品

精確確定其他微量合金元素(包括鉛)的存在和濃度

消除與酸測試方法相關(guān)的危害和不準(zhǔn)確性

利用我們的集成攝像頭和小點(diǎn)功能,利用電子測試來捕獲圖像并專注于小區(qū)域。


測試性能

黃金XRF測試報告.png


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