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簡要描述:EDX-8000B plus RoHS2.0熒光光譜檢測儀能量色散X熒光光譜儀RoHS環(huán)保指令檢測儀主要應(yīng)用于>RoHS 2.0 / WEEE符合性測試>無鹵檢測>玩具EN71及消費(fèi)品的有害物質(zhì)檢測(Pb、Cd、Hg、Cr 、Br、Cl、As、Sb、Se、Ba等)>94/62/EC包裝指令
產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
品牌 | 英飛思 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
---|---|---|---|
重復(fù)性 | 0.05% | 能量分辨率 | 165eV |
分析含量范圍 | 2ppm-99.999% | 元素分析范圍 | Ti-U |
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,電子,綜合 |
為了滿足客戶日益更為嚴(yán)苛的測試需求,特別是對(duì)微量痕量元素測試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標(biāo)準(zhǔn),英飛思ESI全新開發(fā)了升級(jí)版EDX8000B---RoHS符合性XRF檢測光譜儀。相較于基礎(chǔ)版本的Si-pin硅針檢測器,EDX8000B裝備了SDD硅漂移檢測器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量,更好的光譜分辨率,使得檢測性能提高了2-3倍。
EDX8000B的優(yōu)勢:
•更快---由于單位時(shí)間內(nèi)可以獲得更高樣品信號(hào)通量,使得測量時(shí)間大幅減少。100秒即可達(dá)到普通版本儀器200秒的測量效果
•更準(zhǔn)---多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV(普通Si-pin探測器為160eV),以更好地分離不同元素的光譜。同時(shí),強(qiáng)大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng),并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾,把測試準(zhǔn)確度提高到了新的水平
•更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測器(普通Si-pin檢測器6mm2),該款檢測器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測器的光譜強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率CPS),從而得到更好的測試穩(wěn)定性和長期重復(fù)性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺(tái)式儀器相比,EDX8000B光譜儀可以全功率運(yùn)行,因此實(shí)現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測試表現(xiàn)
>>圖2-1,2-2可以清晰的看到,同樣測試條件下,8000B獲得了更好的Cl氯測試光譜(圖中紫色部分為Cl元素光譜線,右圖Cl峰形更高,信噪比更好,分辨率更優(yōu),最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測試結(jié)果)
如何選擇(EDX8000或者EDX8000B)
如果您對(duì)測試速度有更高的要求,
如果您對(duì)微量元素(小于100ppm)的測試靈敏度和穩(wěn)定性有更高要求,
EDX8000B無疑都是好的選擇。
如果您主要關(guān)注性價(jià)比,EDX8000仍然是非常正確的選擇。
及時(shí)而專業(yè)的售后服務(wù)
>對(duì)客戶方操作人員進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)
>現(xiàn)場安裝、調(diào)試、驗(yàn)收服務(wù)
>產(chǎn)品終身維修
>免費(fèi)提供軟件升級(jí)
>提供高效的技術(shù)服務(wù),在接到用戶故障信息后,8小時(shí)內(nèi)響應(yīng),如有需要,48小時(shí)內(nèi)工程師上門維修和排除故障
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