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簡要描述:為了滿足客戶對微量痕量元素測試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標準,英飛思全新開發(fā)了升級版EDX8000B-RoHS符合性XRF檢測光譜儀。相較于基礎版本的Si-pin硅針檢測器,EDX8000B裝備了更高效的SDD硅漂移檢測器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量,更好的光譜分辨率,使得檢測性能提高了2-3倍。如果您對微量元素(小于100ppm)的測試靈敏度和穩(wěn)定性有更高要求,EDX8000B無疑是不錯的選擇。
產(chǎn)品分類
詳細介紹
品牌 | 英飛思 | 行業(yè)專用類型 | 其它 |
---|---|---|---|
價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 臺式/落地式 |
應用領域 | 環(huán)保,食品,電子,汽車,電氣 |
全新升級版
EDX-8000B SDD XRF Spectrometer
EDX-8000B SDD能量色散X熒光光譜儀
RoHS環(huán)保指令檢測專家
為了滿足客戶日益更為嚴苛的測試需求,特別是對微量痕量元素測試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標準,英飛思ESI全新開發(fā)了升級版EDX8000B---RoHS符合性XRF檢測光譜儀。相較于基礎版本的Si-pin硅針檢測器,EDX8000B裝備了更高效的SDD硅漂移檢測器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量,更好的光譜分辨率,使得檢測性能提高了2-3倍。
EDX8000B的優(yōu)勢:
•更快---由于單位時間內可以獲得更高樣品信號通量,使得測量時間大幅減少。100秒即可達到普通版本儀器200秒的測量效果
•更準---多道分析器DPP可實現(xiàn)超過100,000 cps的線性計數(shù)速率而同時保證優(yōu)秀的光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV(普通Si-pin探測器為160eV),以更好地分離不同元素的光譜。同時,強大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體元素間吸收增強效應,并同時考慮到不同基體對光譜強度變化的干擾,把測試準確度提高到了新的水平
•更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測器(普通Si-pin檢測器6mm2),該款檢測器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測器的光譜強度(計數(shù)率CPS),從而得到更好的測試穩(wěn)定性和長期重復性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺式儀器相比,EDX8000B光譜儀可以全功率運行,因此實現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測試表現(xiàn)
典型測試性能對比(EDX8000對比EDX8000B)
塑料中100ppm氯Cl-EDX8000 塑料中100ppm 氯Cl-EDX8000B
圖2-1 圖2-2
>>圖2-1,2-2可以清晰的看到,同樣測試條件下,8000B獲得了更好的Cl氯測試光譜(圖中紫色部分為Cl元素光譜線,右圖Cl峰形更高,信噪比更好,分辨率更優(yōu),最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測試結果)
塑料中100ppm鉛Pb-EDX8000 塑料中100ppm鉛Pb-EDX8000B
圖3-1 圖3-2
>>圖3-1,3-2可以清晰的看到,同樣測試條件下,8000B獲得了更好的Pb鉛測試光譜(圖中綠色部分為Pb元素光譜線,右圖Pb峰形更高,信噪比更好,分辨率更優(yōu),最終表現(xiàn)為更優(yōu)異的測試結果)
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