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礦石分析光譜儀

簡(jiǎn)要描述:英飛思EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP(Fundamental parameter)軟件,同時(shí)配備了優(yōu)秀的高性能硬件,來滿足客戶對(duì)于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。主要應(yīng)用于在采礦過程的所有階段進(jìn)行材料元素成分分析,無論是固體,合金,粉末,液體或者漿液,都可以輕松實(shí)現(xiàn)從鈉(Na)到鈾(U)元素的無損定性和定量分析,分析速度快,測(cè)試結(jié)果精確,儀器性能穩(wěn)定。

  • 產(chǎn)品廠地:蘇州市
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-04-08
  • 訪  問  量:918

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詳細(xì)介紹

品牌英飛思行業(yè)專用類型通用
價(jià)格區(qū)間面議儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域地礦,能源,建材,冶金,綜合

EDX-9000B XRF Spectrometer

能量色散X熒光光譜儀

礦產(chǎn)檢測(cè)專家

image.png

Simply the Best

>美國(guó)AmpTek -SDD探測(cè)器, 高分辨率高計(jì)數(shù)率

>真空測(cè)試環(huán)境提供優(yōu)秀輕元素檢測(cè)效果

>無損元素分析涵蓋11Na to 92U

>適應(yīng)各種復(fù)雜礦物樣品測(cè)試,固體,液體,合金,粉末和泥漿

>多組合濾光片系統(tǒng),有效提高微量元素檢出限

>堅(jiān)固的設(shè)計(jì)適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)工作環(huán)境

EDX9000B能量色散熒光光譜儀-礦產(chǎn)分析專家

作為一款高性能的臺(tái)式能量色散X射線熒光(EDXRF)元素分析儀,新EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FPFundamental parameter軟件,同時(shí)配備了高性能硬件,來滿足客戶對(duì)于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體,合金,粉末,液體或者漿液,EDX9000B都可以輕松實(shí)現(xiàn)從鈉(Na)到鈾(U元素的無損定性和定量分析。分析速度快,測(cè)試結(jié)果精確,儀器性能穩(wěn)定。

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ESI英飛思EDX9000B光譜儀主要應(yīng)用于在采礦過程的所有階段進(jìn)行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦,從選礦到尾礦,EDX9000B在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性,分析性能和穩(wěn)定性。

EDX9000B專注于對(duì)地質(zhì)材料的主量,微量和痕量元素進(jìn)行性和定量分析其中包括

•鐵礦• 銅礦 鋁土礦•貴金屬礦產(chǎn)•稀土•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦錳礦鎳礦石灰石粘土石膏玻璃土壤水泥耐火材料及其他

EDX9000B操作簡(jiǎn)單,分析性能出色,同時(shí)還可拓展到以下應(yīng)用

>塑膠及有機(jī)物:塑料材料PE,PVC,添加劑等元素分析

>石油化工:燃料,潤(rùn)滑油監(jiān)測(cè),添加劑,磨損金屬等中的硫元素分析

>環(huán)境:廢水,空氣污染,土壤和地面,排放控制等

>涂層厚度和薄膜:分析多層涂層,鋼涂層,雜質(zhì)等

>刑偵及公安:證據(jù)分析,材料匹配,爆炸物等

>食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,有害金屬,包裝材料等

產(chǎn)品特點(diǎn)

作為一款專為礦產(chǎn)元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀,EDX-9000B兼顧了耐用性,易于操作和高性價(jià)比。其顯著優(yōu)勢(shì)主要有:

無需或者很少的樣品制備,全程無損分析,一到三分鐘即可出結(jié)果

•強(qiáng)大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體效應(yīng)的影響

50 kV 光管管和電制冷SDD硅漂移檢測(cè)器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期重現(xiàn)性,而且具有出色的元素峰分辨率

能同時(shí)進(jìn)行元素和氧化物成分分析

多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng),并可通過軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P的測(cè)試靈敏度和準(zhǔn)確性,同時(shí)在測(cè)試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩(wěn)定性有了明顯的提高

友好的用戶界面,可定制的分析報(bào)告,可一鍵打印測(cè)試報(bào)告,包括分析結(jié)果,樣品信息,光譜信息和樣品圖像

•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換,亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差

高清內(nèi)置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位

礦產(chǎn)元素檢測(cè)專家EDX9000B

>儀器參數(shù)

儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大樣品腔:460mm*310mm*95mm

半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×75mm

儀器重量: 45Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測(cè)器:AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測(cè)器

多道分析器: 4096DPP analyzer 分析器

X光管:50W高功率鈹窗光管

高壓發(fā)生裝置:電壓最大輸出50kV,自帶電壓過載保護(hù)

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °C 35 °C

儀器配置

>標(biāo)準(zhǔn)配置

>可選配置

Ag初始化標(biāo)樣

磨樣機(jī)

真空泵

壓片機(jī)

礦石專用樣品杯

烘干箱

USB數(shù)據(jù)線

熔片機(jī)

電源線

電子秤

測(cè)試薄膜

礦石標(biāo)準(zhǔn)樣

儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告

交流凈化穩(wěn)壓電源

保修卡

150目篩子

功能強(qiáng)大而界面友好的測(cè)試軟件

image.png

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識(shí)別信息后即可開始測(cè)量。

軟件內(nèi)核-基本參數(shù)法FP可輕松分析未知樣品。

EDX9000B已在工廠預(yù)安裝了軟件并進(jìn)行了數(shù)據(jù)標(biāo)定,客戶運(yùn)行軟件即可立刻開始測(cè)試。無需每天重復(fù)標(biāo)定。強(qiáng)大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器,基體自動(dòng)匹配

>自動(dòng)定性,半定量和定量分析,不同樣品測(cè)試譜圖可實(shí)時(shí)對(duì)比

>光譜處理和校正,去除雙倍峰和逃逸峰干擾,降低元素吸收增強(qiáng)效應(yīng)影響

>光譜背景扣除,有效提高微量元素檢測(cè)精度

>可實(shí)時(shí)刷新測(cè)量結(jié)果

>簡(jiǎn)單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩魟?chuàng)建新的自定義標(biāo)定曲線

>可定制化測(cè)試報(bào)告,一鍵打印

>提供多種數(shù)據(jù)訪問接口,可兼容LIMS實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)


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    請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果(填寫阿拉伯?dāng)?shù)字),如:三加四=7
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