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正確處理真空型礦產(chǎn)元素分析儀故障是確保正常運(yùn)行的關(guān)鍵
正確處理真空型礦產(chǎn)元素分析儀故障是確保正常運(yùn)行的關(guān)鍵

2024-05-27

真空型礦產(chǎn)元素分析儀具有超高的靈敏度和重現(xiàn)性,能夠分析從硫到鈾的廣泛元素范圍,并覆蓋1ppm至99.99%的廣泛含量。其操作簡(jiǎn)便,界面友好,適用于各種礦產(chǎn)資源的快速分析和評(píng)估,為地質(zhì)勘探、礦產(chǎn)開發(fā)等領(lǐng)域提供強(qiáng)有力的技術(shù)支持。真空型礦產(chǎn)元素分析儀在使用過程中可能會(huì)出現(xiàn)故障,了解并正...
  • 2022

    11-18
    什么是XRF能量色散X射線熒光光譜儀的基體和干擾效應(yīng)? XRF能量色散X射線熒光光譜儀的基體和干擾效應(yīng)a)激發(fā)輻射的散射過程將影響樣品中元素的特征輻射強(qiáng)度,這是由于散射過程將影響光譜的背景。此外,還存在兩個(gè)主要的效應(yīng):b)樣品中激發(fā)輻射被吸收和由此產(chǎn)生的或由其它元素(基體)發(fā)射的熒光輻射。c)樣品中其它元素的次級(jí)激發(fā)(增強(qiáng))?!芰喜牧希涸谒芰蠘悠分谢w將影響分析物的特征X射線強(qiáng)度,主要來自:—初級(jí)輻射的散射(主要是不連續(xù)的),它對(duì)背景光譜有很大的貢獻(xiàn)—熒光輻射中的吸收,這主要是由PVC中的Cl,添加劑元素如Ca,Ti,Zn,Sn...
  • 2022

    11-17
    ?XRF能量色散熒光光譜儀礦石礦產(chǎn)土壤分析儀樣品前處理制備方法介紹?? ?XRF熒光光譜儀礦石礦產(chǎn)土壤分析儀EDX9000B樣品前處理制備方法介紹??X射線螢光光譜儀XRFSpectrometerX射線熒光光譜儀,分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩類,前者在分辨率和穩(wěn)定性等方面優(yōu)于后者,使用廣泛;后者結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,休積小,便于攜帶,適用于野外地質(zhì)和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)分析。波長(zhǎng)色散型又分為多道式和順序式兩種,多道式一般有28-30個(gè)波道,可同時(shí)進(jìn)行28-30個(gè)元素的分析,分析速度快,適合于固定元素或成批試樣的生產(chǎn)控制、地質(zhì)勘探等方面的分析;而順序式儀器具有較大的靈活性...
  • 2022

    11-17
    XRF能量色散RoHS分析儀應(yīng)用介紹 RoHS分析儀EDX8000B能量色散XRF?從技術(shù)角度講,完整的RoHS的解決方案應(yīng)該是XRF(X射線熒光光譜儀)、ICP(電感耦合等離子發(fā)射光譜)再加上GC-MS(氣相色譜和質(zhì)譜連用)和紫外分光光度計(jì)等。但在實(shí)際應(yīng)用中,X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析方法的樣品制備簡(jiǎn)單,能非破壞性地快速進(jìn)行多元素分析,可以迅速篩查多種類樣品基質(zhì)如液體、固體、泥漿、粉末、糊狀物、薄膜、空氣過濾物以及其他很多基質(zhì)樣品中的未知成分。對(duì)于最新一代X射線熒光ROHS分析儀EDX8000B而言,其配備了SDD檢測(cè)...
  • 2022

    11-17
    便攜式礦石分析儀真空型礦石成分分析光譜儀的應(yīng)用介紹 便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀?X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析技術(shù)是采用現(xiàn)場(chǎng)X射線光譜儀在采樣現(xiàn)場(chǎng)對(duì)待測(cè)目標(biāo)體中元素進(jìn)行快速地定性和定量分析技術(shù),又稱為現(xiàn)場(chǎng)X射線熒光礦石分析儀。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)分析的應(yīng)用場(chǎng)景與采樣方法,X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析可分為X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)原位分析和X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)取樣分析。現(xiàn)場(chǎng)原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測(cè)窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測(cè)物料的表面,在現(xiàn)場(chǎng)原生條件下獲取待測(cè)目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法;現(xiàn)場(chǎng)取樣分析是指對(duì)待測(cè)...
  • 2022

    11-17
    XRF礦石分析儀測(cè)試螢石中 CaF2、SiO2、Fe2O3和 S成分? EDX9000Bplus礦石分析儀測(cè)試螢石中CaF2、SiO2、Fe2O3和S成分?螢石(Fluorite或Fluorspar或Fluor),又稱氟石、砩石,是一種礦物,其主要成分是氟化鈣(CaF2),含雜質(zhì)較多。其中的鈣常被釔和鈰等稀土元素替代,此外還含有少量的Fe2O3、SiO2和微量的Cl、O3和He等。自然界中的螢石常顯鮮艷的顏色,硬度比小刀低[1]。螢石可以用于制備氟化氫:CaF2+H2SO4→CaSO4+2HF[2];它的色散極低,對(duì)紅外線、紫外線的透過性能高,適...
  • 2022

    11-17
    XRF鍍層測(cè)厚膜厚儀應(yīng)用介紹 RF鍍層測(cè)厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測(cè)量的好處準(zhǔn)確的厚度測(cè)量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品,同時(shí)控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚;制造涂層太厚的產(chǎn)品會(huì)增加制造成本。客戶還通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來測(cè)量涂層,以對(duì)進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺(tái)EDX8000測(cè)厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測(cè)試結(jié)果,并且可以通過單點(diǎn)校準(zhǔn)鏡頭來完善結(jié)果,只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不會(huì)...
  • 2022

    11-16
    XRF熒光光譜儀合金分析儀在鋅合金分析中的應(yīng)用 XRF熒光光譜EDX9000A?合金分析儀在鋅合金分析中的應(yīng)用EDX9000A合金分析儀配備一個(gè)含35種以上元素的標(biāo)準(zhǔn)包,在幾秒鐘內(nèi)可生成合金的化學(xué)成分和牌號(hào)信息。從簡(jiǎn)單的分揀到具有挑戰(zhàn)性的牌號(hào)區(qū)分,合金分析光譜儀EDX9000A都會(huì)提供高度精細(xì)的材料化學(xué)成分,以快速準(zhǔn)確地辨別純金屬和合金牌號(hào)。這些金屬和合金包含但不限于以下所列項(xiàng)目:鋁合金貴金屬鉻鉬鋼不銹鋼鈷合金工具鋼銅合金鈦合金異常合金鍛鋁合金鎂合金鋅合金鎳合金鋯合金鎳/鈷合金本案我們?cè)赬射線能量色散熒光光譜分析(XRF)...
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