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  • EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚光譜儀

    材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過(guò)程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開(kāi)發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測(cè)定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確,快速,無(wú)損,操作簡(jiǎn)單,測(cè)量速度快。可同時(shí)分析多達(dá)五層材料厚度,并能對(duì)鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。

    訪問(wèn)次數(shù):917
    產(chǎn)品價(jià)格:面議
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2024-04-08
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